emcp162/186下压弹片转20pin芯片老化测试座|emmc/emcp数据恢复 -凯发k8苹果
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emcp162/186下压弹片转20pin芯片老化测试座详细信息/detailed information

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emcp162/186下压弹片转20pin芯片老化测试座

集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的socket emcp162/186下压弹片转20pin芯片测试座 安卓手机数据恢复专用
订购热线:13631538587

兼容有球无球测试,相比同类产品具有使用寿命长、通用性广(支持最大尺寸:14mmx18mm);

核心电压可调设计,同时具备过流保护功能,可以测试flash与主控芯片电流加电流表可监测核心电流);

同时兼容:东芝、三星、海力士、intelsandisk(新帝)等所有同样封装的4bit8bitemcp闪存记忆体。

采用通孔焊接结构保证接触良好,socketpcba采用定位孔结合方便更换;

采用下压式结构,更加便于自动化测试,操作方便简单;

产品简介

产品用途:编程座、测试座,对emcp162/186的ic芯片进行测试、读写、数据恢复                       

适用封装:emcp162/186  引脚间距0.5mm

测试座:emcp162/186


采购:emcp162/186下压弹片转20pin芯片老化测试座

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