鸿怡电子plcc48封装光电通信模块测试座案例-凯发k8苹果

目的：光电通信模块测试

名称：plcc测试座、clcc测试座

plcc48pin封装芯片测试座规格：

芯片封装类型：clcc、plcc

芯片引脚：48pin

芯片引脚间距：1.0mm

芯片尺寸：16.4×16.4mm

芯片厚度：4.0mm

测试温度：-50°~ 100°

测试时长：持续1000小时左右

测试频率：1mhz

测试速率：单通道速率（3gbps-10gbps）

测试电流：500毫安内

在鸿怡电子众多hmilu封装芯片测试座案例中，后续将会分享更多的ic测试座、老化座、烧录座、芯片测试夹具、芯片测试治具、芯片测试架等案例，仅供参考，敬请关注！